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耦合多電極陣列系統(CMAS)

原理

由于成分的偏析,微觀晶粒結構的不一致性,表面狀態的不一致性,導致金屬表面微觀區域的電化學電位不一致,即整個表面就是由微觀的陽極區和微觀的陰極區組成。在電解質溶液里,這些微觀的陽極區和陰極區通過金屬本體構成的內電路以及外部電解質溶液構成的外電路,形成完整的電化學通路,無數個腐蝕微電池在金屬表面耦合地進行各自的電子轉移。

CMAS利用絕緣封裝的金屬絲(直徑0.1mm3mm)來模擬金屬表面的微小電化學性能各異的區域。通過測量流過每根金屬絲的電流大小以及方向,可以判別該金屬絲的陰陽極性,以及作為陽極時腐蝕的深度(由FARADYS ‘LAW準確計算)。是目前唯一能定量測量局部腐蝕(點腐蝕和縫隙腐蝕)擴展速率的測量儀器。





技術特點及技術優勢





應用范圍


 

技術參數



安裝方式




應用示意圖







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